電抗器操作沖擊試驗順序爲：a.波形測定；b.至少一次降低電壓值的負極性沖擊波；c.三次額定耐受電壓值的負極性沖擊波
。電壓波形記錄的原則，總的說，與變壓器相同；不過示波器掃描時間最好是能把電壓波形的第二個半周的波形包括在内。對於電流波形應與電壓波形的時間相對應，最好再採用一種更短的掃描時間，以便記錄初始時的電容瞬變電流
。附錄B給出瞭電抗器(變壓器)實際試驗時，所記錄的一些有故障和無故障的波形圖
，可供對試驗結果分析時作參考；但應強調指出的是，由於各種産品的結構不同，故障部位、性質及損壞程度很難相同，即使波形圖畸變情況很相似，也很難說其故障性質也相似。

試驗結果分析，主要是靠所記錄的波形圖來判斷；而波形圖的判斷，是根據降低電壓和全試驗電壓或連續幾次全試驗電壓下所記錄的波形圖進行比較而得到的
，這是一項技術性較強的工作，在試品正常的情況下，降低電壓所記錄的波形與全試驗電壓下所記錄的波形以及幾次全試驗電壓下的波形，除幅值外，應完全相同。當波形發現不相符和畸變(biàn)時，由於(yú)可能出現各種各樣的幹擾，故均應對它進行仔細分析和必要的檢查複試。

爲找出波形發生變化的原因，建議首先對試驗電路，測量電路和接地方式進行仔細檢查，確(què)定它們是否會産生幹擾，如果發現疑點，應加以消除或盡量減少其影響。另外在多級沖擊發生器中，由於(yú)各級點火時間不同，可能使電流波形的起始高頻振蕩部分的幅值有少量的變化，但其基波頻率不變，出現的時間大都在波前，幅值爲峰值的50%以下的範圍内(參見附錄B圖B13)。

其次，應檢查鐵芯接地和内部的任何非線性元件，確認它們不是幹擾源。無間隙的非線性電阻元件随外施電壓增高，波形圖可能會出現某種有規律的變化(參見附錄B圖B12)。一旦排除上述各種幹擾原因和指明瞭(le)幹擾引起的波形變化情況。則：當降低電壓下和全試驗電壓下，或者幾次全試驗電壓下
，所記錄的波形圖有畸變，均可以認爲是由於(yú)試品絕緣故障而引起的。

雷電沖擊截波試驗示波圖判斷更加困難，出現幹擾的原因除上述原因外，還應考慮截斷時間不同而引起的波形不相符
。當截波的截斷時間不很一緻時，一般波形都不大相符，波形截斷後的部分不容易比較。即使是採用瞭(le)可控的截斷間隙，也隻能得到近似相同的截斷時間，雖然截斷時間差别較小，但對某些變壓器而言，也可能使截斷後那部分波形不相符，這是由於(yú)沖擊波波前部分相對應的瞬變現象和截斷時引起的瞬變現象疊加在一起，兩種現象的影響因素都很多，而且大都是一些随機因素，這樣使得降低電壓下和全試驗電壓下，及幾次相同電壓下的波形圖均不大相符，造成混亂。容易誤判斷(參見附錄B圖B11)。

用施加電壓的波形圖來判斷故障是不夠靈敏的，當發現波形畸變時，則說明試品絕緣中出現瞭(le)較大的故障。記錄的波形，隻要選擇合适的掃描時間，可以分析出畸變的原因，如：a.被試繞組加壓端部的主絕緣出現對地故障時，将使電壓波突然下跌(參見附錄B圖B1)；b.沿被試繞組發生爬電逐漸發展呈完全閃絡時，電壓波形一般呈階梯狀逐級下跌；c.沿被試繞組的某一部分閃絡時，将使試品阻抗降低，因而半值時間T2減小
，並(bìng)且在波形上還可能出現高頻振蕩(參見附錄B圖B3、圖B4和圖B5)；d.範圍不太大的故障，如段間或匝間擊穿時，一般電壓波形很難看出變化，但有時也可能在基本波形上出現附加的高頻振蕩，在高壓端部出現局部故障時，電壓波形上可能出現不相符的變化征兆(參見附錄B圖B6)。這種故障，通常電流波形圖可以看出明顯變化。傳遞到非試繞組上電壓波形圖亦能指示出上述故障，且靈敏度比施加電壓的波形圖要高一些。

電(diàn)流波形圖是故障判斷的主要依據，因爲它具有較高的靈敏度
，然而這種較高的靈敏度，也可能顯示出某些非故障的幹擾訊号，如8.1條所述。它們可能使波形發生不相符或畸變(biàn)，因此應對此進行研究。

若電流波形圖發生明顯變化，則說明繞組内部或繞組對地可能發生瞭(le)擊穿(參見附錄B圖B1)。根據所用的故障探測方法，其變化形式也不相同，電流可能增大，也可能減小，並(bìng)且方向也可能變化
，這些現象可作爲確定故障性質及發生部位的依據(參見附錄B圖B3)。a.中性點電流：若電流明顯增大，則表明被試繞組内部出現故障；若電流變小時，則表明被試繞組對相鄰繞組或對地出現故障。

b.電容傳遞電流
：若被試繞組内部或對地出現故障時，則使該電流的極性發生突然的變(biàn)化，其基本頻率也有變(biàn)化，幅值可能降低；如果是被試繞組對相鄰繞組的故障時，則将使該電流突然增加基本頻率也發生變(biàn)化。所有這些故障均使波形圖上疊加不同程度的高頻振蕩。c.小量的，局部的，不規則，或持續時間較短(2～3μs)的畸變(biàn)，一般情況下，可能是由於(yú)匝間，線段間或線段引線等處有局部擊穿或嚴重的放電而引起的。對於(yú)串聯電容小的繞組，即基本上能顯示行波特性的繞組，可根據電容電流畸變(biàn)和行波電流發生畸變(biàn)到達中性點時間的差異來分析故障的位置
。

上面提到瞭(le)截波試驗對故障探測的困難之處，但截波試驗時隻要仔細觀察波形，分析波形的各種情況，還是可以得出正確(què)的結論的。a.當幾次施加電壓波形的截斷時間很接近時，利用電壓和電流波形圖在截斷後部分的差異，可以探測出試品是否存在故障(參見附錄B圖B8和圖B9)；b.當截斷前波形出現畸變，分析故障基本上和全波試驗相同(參見附錄B圖B2和圖B7)。

操作沖擊試驗中，由於(yú)沿整個繞組上的電壓分布是均勻的，因此，出現故障，一般情況下， 都是較大的損壞，如段間。繞組的某一部分，繞組之間或繞組對地等出現瞭(le)擊穿放電或沿面爬電，這将使波形圖出現明顯畸變，如：電壓波形突然下跌或T2時間明顯縮短，有時也可能隻出現短時的下跌使波形呈一個凹陷。因此操作沖擊試驗中的電壓波形圖對大多數故障而言，是有足夠靈敏度的(參見附錄B圖B15)。

應注意的是，當(dāng)波形的T2時間縮短時，應區别是由於(yú)故障引起的，還是由於(yú)鐵芯的剩磁情況不同而導緻的；因此試驗中應盡量保持鐵芯的初始磁化狀态相同，這樣才能更好的對試驗結果進行分析。

在第7.2.4.3項和7.3.4款中，已分别叙述瞭電抗器(變壓器)的電流波形圖情況。電流波形圖的靈敏度與電壓波形圖基本相同，當電壓波形圖出現畸變時，電流波形圖也相應的出現畸變，則意味著絕緣發生瞭故障；對於在初始時間出現的故障，採用較快的掃描來記錄電流波形圖，将更爲有利一些。

上海豫程電氣有限公司是一家集産品研發、制造、銷售、服務爲一體的高科技企業。我公司專業生産各種型号的高低壓電抗器及變頻器周邊配套産品。

高壓電抗器種類：幹式空心串聯電抗器、幹式空心限流電抗器、幹式空心濾波電抗器、幹式鐵心串聯電抗器、幹式鐵心起動電抗器。

低壓電抗器種類：低壓電容櫃補償用串聯電抗器、變頻器用輸入
、輸出電抗器、直流平波電抗器、低壓空心濾波電抗器、非晶高頻電抗器和特殊電抗器等，另外我公司有各種變壓器、濾波器、制動單元、電阻，是您選擇定制産品的專業公司。